產(chǎn)品圖片	產(chǎn)品名稱/型號	品牌所有品牌德國德圖TESTO 美國KIC 美國DeltaTRAK 日本神榮國產(chǎn) 美國任氏JENCO 蘭泰香港CEM 進(jìn)口浙大電氣星晟檢測時代儀器臺灣泰仕TES 美國FLUKE 臺灣衡欣AZ 德國歐普士optris 臺灣固緯GWINSTEK 日本理音RION 川嘉電子日本加野麥克斯KANOMAX 日本共立KYORITSU 華儀儀表美國雷泰Raytek 日本OPTEX 臺灣PROVA 日本HIOKI 芬蘭維薩拉英國Datapaq Wickon 美國FLIR	主要技術(shù)指標(biāo)	價格
	爐溫測試儀（II系列） KIC Start2	美國KIC	6通道,溫度范圍：-150C 至 1050C	洽詢
	爐溫測試儀（X5系列） KIC2000 X5	美國KIC	X5擁有7通道、9通道及12通道三種款式	洽詢
	紅外熱像儀 TiR3FT	美國FLUKE	校準(zhǔn)溫度范圍：-20 ˚C至100 ˚C（-4 oF至212 oF）	洽詢
	熱像儀 Ti50FT	美國FLUKE	校準(zhǔn)溫度范圍：Ti50: -20 ˚C至350 ˚C，2量程（-4 oF至662 oF）	洽詢
	紅外熱像儀 Ti10	美國FLUKE	溫度量程（-10 °C以下未經(jīng)校準(zhǔn)）:-20 °C~+250 °C（-4 °F～+ 482 °F）全熱輻射度是:精度：± 2 °C或2 %（取二者中較大者)	洽詢
	工業(yè)用和商用熱像儀 Ti105	美國FLUKE	溫度測量范圍 -20 °C至250 °C（-4 °F至482 °F）	洽詢
	工業(yè)用和商用熱像儀 Ti110	美國FLUKE	溫度測量范圍 -20 °C至250 °C（-4 °F至482 °F）	洽詢
	手持式紅外溫度計 Fluke 60 系列	美國FLUKE	Fluke 61 -18 °C (0 °F) to -1 °C (30 °F) ± 3 °C (5 °F) above -1 °C (30 °F) to 275 °C (525 °F)± 2% of reading or 2 °C (3.5 °F) (With the instrument stable between 23-25 °C)	洽詢
	紅外接觸式點(diǎn)溫儀 Fluke 566	美國FLUKE	測溫范圍 -40 °C至650 °C（-40 °F至1202 °F）	洽詢
	表面溫度校準(zhǔn)器 3125	美國FLUKE	溫度范圍：35℃～400℃(95 °F～752 °F)	洽詢
	精密鉑電阻溫度計 5623B	美國FLUKE	溫度量程 - 100 °C到156 °C	洽詢
	紅外熱像儀 PT-618	美國FLIR	35 mm鏡頭– FOV： 18° (H) × 14° (V)	洽詢
	紅外熱像儀 PT-304	美國FLIR	100 mm鏡頭– FOV： 4.6° (H) x 3.7° (V)	洽詢
	紅外熱像儀 PT-348	美國FLIR	9 mm鏡頭– FOV： 48° (H) x 39° (V)	洽詢
	遠(yuǎn)程監(jiān)控用熱像儀 ThermoVision2000	美國FLIR	工作溫度范圍為-32°C至+55°C	洽詢
	紅外熱像儀 FLIR B660	美國FLIR	精度 ±1 °C或讀數(shù)的±1% （限制范圍）± 2 °C或度數(shù)的± 2%	洽詢
	紅外熱像儀 FLIR B620	美國FLIR	精度 ±2 °C，或讀數(shù)的±2%	洽詢
	2” FLIR 紅外窗口 IRW-2C	美國FLIR	光學(xué)元件直徑 50mm	洽詢
	紅外熱像儀 P640	美國FLIR	測溫范圍 -40°C ~ +500°C（最高可選測量溫度可達(dá)+2000°C）	洽詢
	熱成像相機(jī) T460	美國FLIR	Accuracy +/-1°C (+/-1.8°F) or +/-1% of reading for limited temperature range; ±2°C (±3.6°F) or 2%, whichever is greater, at 25°C (77°F) nominal	洽詢

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